3M™ 聚碳酸酯载带 3200

  • 3M ID B5005430004

带有非常小的口袋孔,有助于减少由于芯片锡球碰撞粘滞造成生产效率的降低

光学精密工艺钻出小于0.01mm的超小口袋孔

该工艺可大大减少可能污染IC芯片的碎片

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详细信息

产品亮点
  • 带有非常小的口袋孔,有助于减少由于芯片锡球碰撞粘滞造成生产效率的降低
  • 光学精密工艺钻出小于0.01mm的超小口袋孔
  • 该工艺可大大减少可能污染IC芯片的碎片
  • 典型表面电阻率为10^5 ohms/sq。是静态敏感组件的理想选择
  • 无拼接聚碳酸酯载带提供平衡的静电屏蔽和静电衰减性能
  • 精密形成的口袋确保元器件满足ANSI/EIA标准
  • 兼容3M™压敏盖带和3M™热敏盖带

3M™聚碳酸酯载带3200采用精密工艺,可制造出超小(小于0.01mm)口袋孔,这是目前常规机械冲孔方法无法实现的。方便操作人员在运输过程中维持真空压力,防止植球凸点粘在其中,并减少可能导致污染IC芯片的外界物质的数量。几乎消除了可能导致载带污染的缺陷的碎片。

  • 半导体磁带和卷筒的照片

    更小的口袋孔,大大减少碰撞粘滞

    3M™聚碳酸酯载带3200系列用于越来越小的半导体元器件,具有超小的口袋孔,方便操作人员在运输过程中维持真空压力。这些口袋孔非常小,几乎消除了焊接凸点粘在其中的可能性——提高了生产量,降低了IC芯片损坏和丢失的可能性。


  • 半导体元件组装

    光学精密工艺

    口袋孔由3M光学精密工艺制造,相比于当前常规机械冲孔方法,可以实现更小的孔周。这一过程也减少了潜在污染IC芯片的外界物质的数量,也几乎消除了可能导致载带污染的缺陷的碎片。

  • 蓝色电路板

    适用于静电敏感元器件

    无拼接的聚碳酸酯载带——用于包装静电敏感元器件。静电敏感的载带具有精密形成的口袋,满足ANSI/EIA标准。在运输过程中有效地保护无源元器件。其标称表面电阻率≥10⁴ Ω/平方和≤10⁸ Ω/平方。3M™聚碳酸酯载带3200系列能够消除由于摩擦起电效应而积累的电荷。这种载带适用于静电敏感元器件的包装。

规格

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应用 电子元件封装
应用场合 IC, LED, WLCSP, 离散组件, 被动组件, 裸晶片
材料 聚碳酸酯
表面电阻 1.0x10⁴ Ω - 1.0x10⁸ Ω
产品颜色 黑色